X荧光光谱仪测试

X荧光光谱仪是一种用于分析物质成分和元素含量的仪器。这种仪器利用X射线（一次X射线）照射样品，从而激发样品中的原子产生次级X射线（X射线荧光）。这些次级X射线的能量或波长特性与样品中元素的特性相关，因此可以通过测量这些特征X射线的信息来确定样品中元素的种类和含量。

X荧光光谱仪能够分析固体、粉末、液体等不同形态的样品，且具有快速、非破坏性、高精度的特点。它广泛应用于材料科学、化学、地质、环境科学等多个领域，用于定性和定量分析。

1、涂层成分和厚度分析 

X射线荧光光谱仪可以准确检测多层，即多层合金的厚度和成分、上下元素的重复镀层、轻元素和有机物的镀层和渗透层。 

 2、环境检测解决方案  

X射线荧光光谱仪可以检测多种重金属和有害元素，检测的检出限可以达到1ppm以下。  

3、全要素分析 

X射线荧光光谱仪可以分析各种合金、矿石、土壤、珠宝等的元素组成，可以检测各种常见的贵金属和稀土。适用于广泛的行业，无论是电镀、5G通讯、新能源、五金建材、半导体、地矿、珠宝、汽车，还是高精密电子、芯片、航空航天等行业。

GB/T 41497-2022 钒铁 钒、硅、磷、锰、铝、铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 

 GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化学分析方法 第11部分：氧化钙、氧化镁、二氧化硅、氧化铝及氧化铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法) 

 GB/T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分：微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 

 GB/T 40915-2021 X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量 

GB/T 5687.13-2021 铬铁 铬、硅、锰、钛、钒和铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)

 GB/T 40312-2021 磷铁 磷、硅、锰和钛含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法) 

 GB/T 40311-2021 钒渣 多元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法) 

 GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染 

 GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴 

GB/T 8151.22-2020 锌精矿化学分析方法 第22部分：锌、铜、铅、铁、铝、钙和镁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法

1、用于销售，出具检测报告书，让客户更加信赖产品，提高产品的知名度。

2、用于产品改善，依据检测陈述改善自己的产品质量，提升产品质量，降低生产成本。

3、用于产品研制，中科检测协助您完成科研试验，缩短研制周期，降低研制成本。

4、科研论文，文献数据运用。

咨询沟通：确认客户检测项目，检测标准，检测要求，并填写测试申请表；

提供样品：样品可选择寄送或者上门检测；

签约付款：确认委托后，安排打款，收款后通知开案；

分析测试：根据测试申请表安排测试；

出具报告：根据测试申请表及检测结果出具报告，委托方确认无误后，检测报告签字盖章；

寄送报告：检测报告签字盖章后连同发票寄送；